A Bayesian EAP-Based Nonlinear Extension of Croon and Van Veldhoven's Model for Analyzing Data from Micro-Macro Multilevel Designs
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Autor(en):
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Zitzmann, Steffen; Lohmann, Julian F.; Krammer, Georg; Helm, Christoph; Aydin, Burak; Hecht, Martin
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Tübinger Autor(en):
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Erschienen in:
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Mathematics
(2022), Bd.
10,
H.
5
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Verlagsangabe:
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Mdpi
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Sprache:
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Englisch
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Referenz zum Volltext:
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http://dx.doi.org/10.3390/math10050842
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ISSN:
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2227-7390
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DDC-Klassifikation:
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510 - Mathematik
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Dokumentart:
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Wissenschaftlicher Artikel
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Zur Langanzeige
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