An Accurate Model for the Ion Current-Distance Behavior in Scanning Ion Conductance Microscopy Allows for Calibration of Pipet Tip Geometry and Tip-Sample Distance
|
Autor(en):
|
Rheinlaender, Johannes; Schaeffer, Tilman E.
|
|
Tübinger Autor(en):
|
|
|
Erschienen in:
|
Analytical Chemistry
(2017), Bd.
89,
H.
21,
S.
11875-11880
|
|
Verlagsangabe:
|
Amer Chemical Soc
|
|
Sprache:
|
Englisch
|
|
Referenz zum Volltext:
|
http://dx.doi.org/10.1021/acs.analchem.7b03871
|
|
ISSN:
|
1520-6882
|
|
DDC-Klassifikation:
|
540 - Chemie
|
|
Dokumentart:
|
Wissenschaftlicher Artikel
|
|
Zur Langanzeige
|
