Quantifying the electrical transport characteristics of electron-doped La0.7Ce0.3MnO3 thin films through hopping energies, Mn valence, and carrier localization length
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Autor(en):
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Thiessen, A.; Beyreuther, E.; Werner, R.; Koelle, D.; Kleiner, R.; Eng, L. M.
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Tübinger Autor(en):
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Erschienen in:
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Journal of Physics and Chemistry of Solids
(2015), Bd.
80,
S.
26-33
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Verlagsangabe:
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Pergamon - Elsevier Science Ltd
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Sprache:
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Englisch
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Referenz zum Volltext:
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http://dx.doi.org/10.1016/j.jpcs.2014.12.014
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ISSN:
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0022-3697
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DDC-Klassifikation:
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530 - Physik
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Dokumentart:
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Wissenschaftlicher Artikel
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