Inhaltszusammenfassung:
Der elektronendotierte Kupratsupraleiter La2-xCexCuO4 wurde durch elektrische Transportmessungen bei tiefen Temperaturen T bis zu 5 K und hohen Magnetfeldern B bis zu 16 T untersucht. Dazu wurden auf Bikristall-Substraten mit künstlichen Korngrenzen durch Molekularstrahlepitaxie und Mikrostrukturierung Dünnfilm-Tunnelkontakte hergestellt. Die Charakterisierung erfolgte durch Messungen des spezifischen Widerstands der Dünnfilme, sowie der Tunnelleitfähigkeit von Quasiteilchen über die Korngrenzen.
Mit diesen Messungen konnte eine unkonventionelle Symmetrie des Ordnungsparameters in La2-xCexCuO4 nachgewiesen werden. Außerdem wurde gezeigt, dass sich die Tunnelleitfähigkeit als Messgröße für das obere kritische Feld Bc2 (T) einsetzen lässt. Damit wurde für La2-xCexCuO4 ein Wert von Bc2 ~ 24 T gefunden, der etwa dreimal so hoch ist, wie der bisher bekannte Wert für Bc2 (0) in diesem Material. Mit dieser Beobachtung konnte gezeigt werden, dass die supraleitende Phase im B-T-Phasendiagramm einen deutlich größeren Raum einnimmt und insbesondere eine Pseudogap-Phase in La2-xCexCuO4 entweder gar nicht vorliegt, oder nur in einem sehr kleinen Temperaturbereich.
Neben dem Tunneln von Quasiteilchen wurde auch das Cooper-Paar-Tunneln in kleinen Magnetfeldern untersucht. Dabei konnte gezeigt werden, dass der kritische Strom über die Korngrenzen abhängt vom Hersteller der Bikristall-Substrate.