X-ray photoelectron diffraction study of dopant effects in La0.7X0.3MnO3 (X = La, Sr, Ca, Ce) thin films
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Autor(en):
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Raisch, C.; Langheinrich, C.; Werner, R.; Kleiner, R.; Koelle, D.; Glaser, M.; Chasse, T.; Chasse, A.
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Tübinger Autor(en):
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Erschienen in:
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Journal of Applied Physics
(2013), Bd.
113,
Article 063511
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Verlagsangabe:
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Amer Inst Physics
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Sprache:
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Englisch
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Referenz zum Volltext:
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http://dx.doi.org/10.1063/1.4789988
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ISSN:
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0021-8979
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DDC-Klassifikation:
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530 - Physik
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Dokumentart:
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Wissenschaftlicher Artikel
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