Zero-Shot Learning—A Comprehensive Evaluation of the Good, the Bad and the Ugly

Autor(en):

Xian, Yongqin; Lampert, Christoph; Schiele, Bernt; Akata, Zeynep

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence (2019-07-19), Bd. 41, S. 2251 - 2265

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

DDC-Klassifikation:

004 - Informatik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: