In situ synchrotron X-ray diffraction study of coherently embedded silver nanostructure growth in silicon

Autor(en):

Guha, Puspendu; Juluri, Raghavendra Rao; Bhukta, Anjan; Ghosh, Arnab; Maiti, Santanu; Bhattacharyya, Arpan; Srihari, Velaga; Satyam, Parlapalli V.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Crystengcomm (2017), Bd. 19, H. 45, S. 6811-6820

Verlagsangabe:

Royal Soc Chemistry

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1466-8033

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
540 - Chemie

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: