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Assessing Antisite Defect and Impurity Concentrations in Bi2Te3 Based Thin Films by High-Accuracy Chemical Analysis
| Autor(en): | Peranio, Nicola; Winkler, Markus; Duerrschnabel, Michael; Koenig, Jan; Eibl, Oliver | |
| Tübinger Autor(en): |
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| Erschienen in: |
Advanced Functional Materials
(2013), Bd.
23,
H.
39,
S.
4969-4976 |
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| Verlagsangabe: | Wiley - V C H Verlag Gmbh | |
| Sprache: | Englisch | |
| Referenz zum Volltext: | http://dx.doi.org/10.1002/adfm.201300606 | |
| ISSN: | 1616-301X | |
| DDC-Klassifikation: |
530 - Physik 540 - Chemie |
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| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel | |
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