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| Autor(en): | Liu, Weiyang; Wen, Yandong; Raj, Bhiksha; Singh, Rita; Weller, Adrian | |
| Tübinger Autor(en): |
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| Erschienen in: |
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
(2023), Bd.
45,
H.
2,
S.
2458-2474 |
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| Verlagsangabe: | IEEE Computer Soc | |
| Sprache: | Englisch | |
| Referenz zum Volltext: | http://dx.doi.org/10.1109/TPAMI.2022.3159732 | |
| ISSN: | 0162-8828 | |
| DDC-Klassifikation: |
004 - Informatik 600 - Technik |
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| Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel | |
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