Two-shot Spatially-varying BRDF and Shape Estimation

Autor(en):

Boss, Mark; Jampani, Varun; Kim, Kihwan; Lensch, Hendrik P. A.; Kautz, Jan

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

2020 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) (2020), Bd.

Verlagsangabe:

IEEE

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

DDC-Klassifikation:

004 - Informatik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: