Revealing the local crystallinity of single silicon core-shell nanowires using tip-enhanced Raman spectroscopy
Autor(en):
|
van den Berg, Marius; Moeinian, Ardeshir; Kobald, Arne; Chen, Yu-Ting; Horneber, Anke; Strehle, Steffen; Meixner, Alfred J.; Zhang, Dai
|
Tübinger Autor(en):
|
|
Erschienen in:
|
Beilstein Journal of Nanotechnology
(2020), Bd.
11,
S.
1147-1156
|
Verlagsangabe:
|
Beilstein - Institut
|
Sprache:
|
Englisch
|
Referenz zum Volltext:
|
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.99
|
ISSN:
|
2190-4286
|
DDC-Klassifikation:
|
530 - Physik 600 - Technik
|
Dokumentart:
|
Wissenschaftlicher Artikel
|
Zur Langanzeige
|