Fast fitting of reflectivity data of growing thin films using neural networks

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Fast fitting of reflectivity data of growing thin films using neural networks

Autor(en): Greco, Alessandro; Starostin, Vladimir; Karapanagiotis, Christos; Hindcrhofer, Alexander; Gerlach, Alexander; Pithan, Linus; Liehr, Sascha; Schreiber, Frank; Kowarik, Stefan
Tübinger Autor(en):
Greco, Alessandro
Starostin, Vladimir
Gerlach, Alexander
Schreiber, Frank
Hinderhofer, Alexander
Erschienen in: Journal of Applied Crystallography (2019), Bd. 52, S. 1342-1347
Verlagsangabe: Int Union Crystallography
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1107/S1600576719013311
ISSN: 1600-5767
DDC-Klassifikation: 530 - Physik
540 - Chemie
570 - Biowissenschaften, Biologie
610 - Medizin, Gesundheit
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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